국민대학교 산학협력단 공동기기원은 오는 30일부터 31일까지 이틀간 국민대학교 산학협력관에서 ‘첨단기기 분석 세미나’를 진행한다고 28일 밝혔다.

국민대 공동기기원 첨단기기 분석 세미나 포스터 (사진=국민대학교)

국민대 공동기기원이 주최하고 LINC 3.0 사업단이 후원하는 이번 ‘첨단기기 분석 세미나’는 4명의 현직 첨단기기 분석 전문가들을 초청해 대학(원)생 뿐만 아니라 산학협력 가족회사 임직원들을 대상으로 공동기기원의 장비별ㆍ분야별 특성에 맞는 이론 교육 및 실습 기회를 제공해 연구장비의 활용성을 높이기 위해 마련됐다.

30일에는 한국 ITS 이종식 고문이 ‘XRD: X-ray를 이용한 결정구조 분석’을, 국민대 류일환 박사가 ‘XPS: 광전자분석법의 기초 및 응용’을 주제로 세미나를 진행한다. 31일에는 JEOL Korea 박중식 책임이 ‘TEM: 투과전자현미경의 각부 역할과 회절분석 및 EDS분석법’을, JEOL Korea 전홍필 책임이 ‘SEM: SEM신호발생원리 및 이미지관찰’을 주제로 산업현장과 실험실에서 필요로 하는 첨단기기를 활용해 데이터를 산출 및 해석에 필요한 전문지식과 노하우를 제공한다.

연구장비 활용에 관심이 있는 사람이면 누구나 국민대 공동기기원 홈페이지를 통해 신청 가능하며 교육비는 전액 무료다.

김대정 국민대 공동기기원 원장(전자공학부 교수)은 “대학이 보유한 첨단 연구장비의 공동 활용을 촉진하기 위해 연구 현장의 이용자들에게 필요한 맞춤형 교육 프로그램을 더욱 확대해 나갈 것”이라며 “연구장비 공동활용을 위한 체계적 지원을 지속해 나갈 것”이라고 전했다.

※ 이 기사는 '뉴스콘텐츠 저작권 계약'으로 저작권을 확보하여 게재하였습니다.